高效VPH光栅，接近衍射极限的光学分辨率
CXP接口，能够实现250kHz的线扫描速率
核心组件采用更具成本效益的反射光栅和摄像头
波长范围和相机可根据需要定制
产品简介鉴知技术 ST840E-28 光谱仪是一款检测深度12.9mm的高速、稳定、全国产的商用OCT光谱仪。可用于高分辨率、高信噪比、大成像深度的三维层析成像，被广泛用于工业检测用途。
ST840E-28光谱仪可选配多种进口及国产相机，最高可获得250kHz的线扫描速度。
应用领域· 金属切削检验
· 显示器平整度检测
· 焊接熔孔检测
· 多层涂料均匀性检验
技术特点高效VPH光栅，接近衍射极限的光学分辨率
CXP接口，能够实现250kHz的线扫描速率
核心组件采用更具成本效益的反射光栅和摄像头
波长范围和相机可根据需要定制
产品参数探测器 | 性能指标 | 参数 |
类型 | 线阵CMOS | |
有效像素 | 2048pixels | |
像元尺寸 | 10*200μm | |
感光面积 | 20.4*0.2mm | |
最大线扫速度 | 250kHz | |
光学参数 | 中心波长 | 840nm（可根据实际光源微调） |
光谱范围带宽 | 40nm | |
光学分辨率 | 0.015nm | |
成像深度 | 12.9mm | |
轴向分辨率 | 11.2μm（空气） | |
入射光接口 | FC/APC 光纤接口 | |
电气参数 | 数据输出接口 | 见子型号配置表 |
ADC 位深 | 8/10/12bit | |
供电电源 | 11 ~ 24VDC，支持PoCXP供电 | |
工作功耗 | ＜10W | |
工作温度 | 0°C~50°C | |
存储温度 | -20°C~60°C | |
工作湿度 | ＜85%RH（不结露） | |
物理参数 | 尺寸 | 312.5*166*80.5mm |
重量 | 2.5kg |
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