高效VPH光栅，接近衍射极限的光学分辨率
摄像机链路接口，能够实现250kHz的最大线扫描速率
优异的滚降性能，实现更深层成像
稳定可靠的技术，无需频繁校准
波长范围和相机可根据需要定制
产品简介鉴知 ST840E-40光谱仪是一种高速、稳定的商用OCT（光学相干层析成像）光谱仪。它具有高分辨率、高信噪比、大成像深度的三维层析成像能力，广泛应用于激光焊接等工业检测领域。
ST840E-40 光谱仪光谱仪可选USB3.0、Cameralink和CXP高速传输接口，可获得最大250kHz的线扫描速度。
应用领域焊接熔深检测
显示屏平整度检测
半导体膜层、光学镜片镀膜等
焊缝渗透及形貌测量的OCT系统
（1） 高精度孔深测量的实时二维扫描
（2）三维扫描，焊缝熔池形态综合监测
技术特点高效VPH光栅，接近衍射极限的光学分辨率
摄像机链路接口，能够实现250kHz的最大线扫描速率
优异的滚降性能，实现更深层成像
稳定可靠的技术，无需频繁校准
波长范围和相机可根据需要定制
产品参数探测器 | 性能指标 | 参数 |
类型 | 线阵CMOS | |
有效像素 | 2048pixels | |
像元尺寸 | 10*200μm | |
感光面积 | 20.4*0.2mm | |
最大线扫速度 | 250kHz | |
光学参数 | 中心波长 | 840nm（可按实际光源微调） |
光谱范围带宽 | 40nm | |
光学分辨率 | 0.02nm | |
成像深度 | 9mm | |
轴向分辨率 | 7.8μm（空气） | |
入射光接口 | FC/APC 光纤接口 | |
电学参数 | ADC 位深 | 8/10/12bit |
供电电源 | DC 10 to 15V | |
工作功耗 | ＜3W | |
工作温度 | 0°C~50°C | |
存储温度 | -20°C~60°C | |
工作湿度 | ＜85%RH（不结露） | |
物理参数 | 尺寸 | 290*166*78.5mm |
重量 | 2kg |
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