光谱仪是一种将复色光按波长分解为单色光，并对其进行检测与定量分析的科学仪器。

目前主流光谱仪多采用Czerny‑Turner 反射式光路结构，该结构以两面凹面反射镜分别作为准直镜与成像镜，使用平面反射光栅作为色散元件实现分光。

一束光从光纤通过SMA905接口后进入光谱仪中。依次通过狭缝→准直镜→光栅→聚焦镜→探测器→A/D转换→FPGA→USB→PC端。

光谱仪结构

1. 入射狭缝

限制入射光的范围，光一般是通过光纤SMA905输入到狭缝，或者是经过透镜汇聚到狭缝内部，用于限制入射光的形状和尺寸。入射狭缝直接影响光谱仪的分辨率和光通量，狭缝越小，分辨率越高，光通量越小，狭缝越大，分辨率越低，光通量越大。

鉴知技术提供10μm、25μm、50μm、100μm、200μm等标准狭缝，同时支持狭缝定制服务。

2.准直元件

使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。

3. 色散元件(光栅)

衍射光栅将从狭缝入射的光在空间上进行色散，使其光强度成为波长的函数。它是光谱仪进行分光检测的基础，是光谱仪的核心部分。对于一个给定的光学平台和阵列式探测器，我们可以通过选择不同的衍射光栅来对光谱仪的光谱覆盖范围、光谱分辨率和杂散光水平进行控制。

左图：反射型光栅；右图透射型光栅

4. 聚焦反射镜

收集色散的光学信号，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于特定波长。

5.探测器

光电探测器是光谱仪的核心部分，放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是CCD阵列或COMS，材料通常为SI基材料或是InGaAs材料。